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第1部分参考资料及说明

第1部分参考资料:
[1]Suny Li (Li Yang),SiP System-in-Package design and simulation[M].New Jersey:WILEY,2017.
[2]李扬,刘杨.SiP系统级封装设计与仿真[M].北京:电子工业出版社,2012.
[3]李国良,刘帆.微电子器件封装与测试技术[M].北京:清华大学出版社,2018.
[4]王阳元等.集成电路产业全书[M].北京:电子工业出版社,2018.
[5]图马拉,斯瓦米纳坦.系统级封装导论:整体系统微型化[M].刘胜译.北京:化学工业出版社,2014.
[6]王喆垚.微系统设计与制造[M].北京:清华大学出版社,2015.
[7]金玉丰,王志平.微系统封装技术概论[M].北京:科学出版社 2006.
[8]Garrou P,Lwona Turlik,et al.多芯片组件技术手册[M].北京:电子工业出版社,2006.
[9]Gupta T K.厚薄膜混合微电子学手册[M].北京:电子工业出版社,2005.
[10]Ulrich R,Brown W.高级电子封装[M].北京:机械工业出版社,2010.
[11]谢源,丛京生,斯巴肯纳等.3D集成电路设计[M].北京:机械工业出版社,2016.
[12]Chuan Seng Tan.晶圆级3D IC工艺技术[M].北京:中国宇航出版社,2016.
[13]张汝京.纳米集成电路制造工艺[M].北京:清华大学出版社,2014.
[14]姚玉,周文成.芯片先进封装制造[M].广州:暨南大学出版社,2019.
[15]Rino Micheloni.三维存储芯片技术[M].北京:清华大学出版社,2020.
[16]SiP Technology,WeChat public account,Suny Li (Li Yang).
[17]此外有部分资料和信息来源于网络,恕不一一列出.
第1部分说明:
(1)关于长度单位微米,对应的符号为μm,在EDA设计软件中通常写作um。因此,为了保持图文一致,在本书正文中,微米对应的英文均采用um的写法。
(2)Interconection:互连和互联,互连是一个具体概念,用于有形物体,如连接、连续、连队等,互联是一个抽象概念,用于抽象事物,如联系、联合、关联等。